Interpretación de mediciones s-SNOM en cintas de grafeno. Aplicación del modelo de enlace fuerte

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Resumen

This project starts with the making of graphene using exfoliation technique. Properties of the produced samples are then analysed by means of a topographic profile and optical measurements of near-field optical microscopy (s-SNOM). In the last part of this work a development of a the tight-binding model in periodic structures and nanoparticles is included. By applying this model to graphene a theoretical expression for the dielectric response is obtained, thus opening a window for interpretation of future experimental results.

Descripción

El grafeno es un material que ha sido estudiado durante la última década en diferentes campos de la ciencia y tecnología. Por sus interesantes propiedades promete ser un componente principal de las nuevas tecnologías. En particular, la excitación de plasmones superficiales en estos materiales ha generado gran interés en la comunidad científica por potenciar sus funcionalidades en aplicaciones como sensórica y dispositivos electrónicos. En este trabajo de grado se aborda el proceso experimental de obtención y caracterización de plasmones en grafeno y el uso del modelo de enlace fuerte para obtener la estructura de bandas del material y el espectro energético de las nanopartículas semejantes a las obtenidas experimentalmente y con tales elementos se obtiene la constante dieléctrica del sitema.

Palabras clave

Grafeno, Preparación y caracterización de Grafeno, Microscopía óptica de campo cercano, Modelo de enlace fuerte, Respuesta dieléctrica

Materias

Licenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicas , Grafeno , Dieléctricos , Plasmones (Física)

Citación