Plasmones superficiales en sistemas multicapas Au/SiO_2
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2018-10-22
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Descripción
En este trabajo se presenta, un estudio experimental de la dependencia angular de la reflectancia de sistemas multicapas en condiciones de reflexión interna total (Configuración de Kretschmann). El crecimiento de las estructuras se lleva acabo en un sistema de ultra alto vacío mediante evaporación con cañón de electrones y evaporador térmico de materiales, el sensor de este último sistema es calibrado mediante un estudio topográfico por microscopia de fuerza atómica. El reflectómetro angular cuenta con un goniómetro automatizado de alta resolución (< 1 mrad), y un láser de 533 nm en polarización TM que ilumina el sistema multicapa a través de un lente cilíndrico. Los resultados permiten caracterizar la evolución, calidad y acoplamiento de las resonancias plasmónicas en función de los parámetros estructurales como espesores y número de capas.
Resumen
In this work, an experimental study of the angular dependence of the reflectance of multilayer systems under conditions of total internal reflection (Kretschmann configuration) is presented. The growth of the structures is carried out in an ultra high vacuum system by electron gun evaporation and by the thermal evaporator of materials, the sensor of the latter system is calibrated by a topographic study by using the atomic force microscopy. The angular reflectometer features a high resolution automated goniometer (<1 mrad), and a 533 nm polarized TM laser that illuminates the multilayer system through a cylindrical lens. The results allow us to characterize the evolution, quality and coupling of plasmonic resonances in the function of parameters such as thickness and number of layers.
Palabras clave
Plasmones superficiales, Óptica de sistemas multicapas
Materias
Licenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicas, Plasmones (Física), Teoría electromagnética, Dieléctricos