Adc sampling rate for advanced 8 bit microcontrollers
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Universidad Distrital Francisco José de Caldas
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Resumen
Descripción
This study reviews in theory the roles played by the values of the main analog to digital (ADC) converter parameters in the maximum number of samples per second (sampling rate) for an analog reference signal. These parameters are present in the middle and advanced families of Microchip´s microcontroller units (MCU). The tradeoffs between the characteristics of the input signal, the resolution of the data required by the application and the device characteristics, are determined with the purpose of maximizing the sampling rate and benchmarking the performance of three ranges of Microchip´s PIC MCU according to their specifications
Este estudio teórico revisa los roles que tienen los valores de los principales parámetros en el modelo de los conversores analógico a digital (ADC), presentes en las unidades microcontroladoras (MCU) de gama media y avanzada del fabricante Microchip, en el número máximo de muestras por segundo (tasa de muestreo) que se puede adquirir de una señal analógica de referencia. Se determinan los compromisos entre las características de la señal de entrada, la resolución de los datos requerida por la aplicación y las características del dispositivo, a fin de maximizar la tasa de muestreo y evaluar comparativamente el desempeño de tres gamas representativas de MCU PIC® de Microchip a partir de sus especificaciones.
Este estudio teórico revisa los roles que tienen los valores de los principales parámetros en el modelo de los conversores analógico a digital (ADC), presentes en las unidades microcontroladoras (MCU) de gama media y avanzada del fabricante Microchip, en el número máximo de muestras por segundo (tasa de muestreo) que se puede adquirir de una señal analógica de referencia. Se determinan los compromisos entre las características de la señal de entrada, la resolución de los datos requerida por la aplicación y las características del dispositivo, a fin de maximizar la tasa de muestreo y evaluar comparativamente el desempeño de tres gamas representativas de MCU PIC® de Microchip a partir de sus especificaciones.
Palabras clave
ADC, quantification, scaling, sample and hold, SAR, sampling rate, ADC, cuantificación, escalización, muestreo y retención, SAR, tasa de muestreo