Herreño Fierro, César AurelioReyes Vega, José Antonio2019-08-262019-08-262019-02-22http://hdl.handle.net/11349/16114La gran mayoría del material bibliográfico en torno a la elipsometría se centra en artículos, tesis y textos de posgrado, ello conlleva que dichos documentos se encuentren redactados haciendo uso de un lenguaje formal y especializado sobre tema. Por lo tanto, un estudiante de pregrado que desee iniciar un estudio y/o trabajo en este tema, se encontrará con la necesidad de consultar diversas fuentes de referencia, además de comprenderlas y articularlas en pro de su proceso académico. En este contexto surge la iniciativa de elaborar el presente documento, el cual se encuentra redactado y estructurado con el fin de ser un material de referencia auto contenido, el cual permita un primer acercamiento de estudiantes de pregrado en torno a la elipsometría. Dado ello, este documento aborda los principales tópicos de la teoría electromagnética clásica, la física del estado sólido, la óptica física y la óptica matricial, con el fin de dar un sustento teórico/conceptual en los fundamentos y la importancia de la elipsometría, la cual, consiste en una técnica experimental basada en el cambio del estado de polarización de la luz luego de ser reflejada por una superficie, cambio que al ser analizado y modelado permite la caracterización óptica de un material de interés a partir de la determinación de las constantes ópticas dadas por el índice de refracción, la función dieléctrica y la conductividad eléctrica.The majority of bibliographic material around ellipsometry are articles, postgraduate theses and texts, this documents are written using a formal and specialized language on the subject. Therefore, an undergraduate student who wishes to initiate a study and / or work on this topic, will find the need to consult various sources of reference, as well as understand and articulate them in pro of their academic process. In this context, arises the initiative in elaborate the present document, which is written and structured in order to be a autocontained reference material, which allows a first approach of undergraduate students around ellipsometry. Given this, this document addresses the main topics of classical electromagnetic theory, solid state physics, physical optics and matrix optics, in order to provide a theoretical / conceptual basis in the fundamentals and the importance of ellipsometry, the which consists of an experimental technique based on the change of the polarization state of the light after being reflected by a surface, a change that when analyzed and modeled allows the optical characterization of a material of interest from the determination of the constants optics given by the refractive index, the dielectric function and the electrical conductivity.pdfspaAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacionalhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ElipsometríaCaracterización ópticaÓptica físicaConstantes ópticasLicenciatura en Física - Tesis y disertaciones académicasÓptica físicaElipsometríaFísica del estado sólidoinfo:eu-repo/semantics/openAccessEllipsometryOptical caracterizationPhysical opticsOptical constantsMonografíaAbierto (Texto Completo)